宇部工業高等専門学校
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半導体素子・ICの測定法

川口清一, 石野寛著. -- 日刊工業新聞社, 1970. -- (Semi Conductor Series ; 7). <BB01407509>
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半導体素子・ICの測定法

川口清一, 石野寛著. -- 日刊工業新聞社, 1970. -- (Semi Conductor Series ; 7). <BB01407509>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日 予約
0001 宇部高専 書庫2階 549.8 048026 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 宇部高専
配置場所 書庫2階
請求記号 549.8
資料ID 048026
状態
コメント
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 半導体素子・ICの測定法 / 川口清一, 石野寛著
ハンドウタイ ソシ IC ノ ソクテイホウ
出版・頒布事項 東京 : 日刊工業新聞社 , 1970.12
形態事項 2, 7, 162, 4p ; 22cm
書誌構造リンク Semi Conductor Series||Semi Conductor Series <BB00986817> 7//b
学情ID BN04816988
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 川口, 清一
カワグチ, セイイチ <NC:DA04359734>
著者標目リンク 石野, 寛
イシノ, ヒロシ <NC:DA04359756>
分類標目 NDC6:549
分類標目 科学技術 NDLC:ND371
件名標目等 トランジスタ||トランジスタ
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