呉工業高等専門学校

電子線マイクロアナリシス : 走査電子顕微鏡,X線マイクロアナライザ分析法

副島啓義著. -- 日刊工業新聞社, 1987. <BB00095805>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日
0001 呉高専 図書館開架 433.5||So-22 00070450
No. 0001
巻号
所蔵館 呉高専
配置場所 図書館開架
請求記号 433.5||So-22
資料ID 00070450
状態
コメント
返却予定日

書誌詳細

標題および責任表示 電子線マイクロアナリシス : 走査電子顕微鏡,X線マイクロアナライザ分析法 / 副島啓義著
デンシセン マイクロ アナリシス : ソウサ デンシ ケンビキョウ Xセン マイクロ アナライザ ブンセキホウ
出版・頒布事項 東京 : 日刊工業新聞社 , 1987.2
形態事項 x,597,5p ; 27cm
巻号情報
ISBN 4526021008
注記 引用・参考文献:p.592-597
学情ID BN00749109
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 副島, 啓義(1939-)
ソエジマ, ヒロヨシ <NC:DA00807720>
分類標目 分析化学 NDC8:433.5
分類標目 科学技術 NDLC:PA124
件名標目等 光学分析||コウガクブンセキ
件名標目等 エックス線分光分析||エックスセンブンコウブンセキ
件名標目等 エックス線分光分析||エックスセンブンコウブンセキ
件名標目等 微量分析||ビリョウブンセキ