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System-on-chip test architectures : nanometer design for testability
edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba. -- Morgan Kaufmann Pub., 2008. -- (The Morgan Kaufmann series in systems on silicon / Peter J. Ashenden, Wayne Wolf, series editors). <BB01413626>
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System-on-chip test architectures : nanometer design for testability
edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba. -- Morgan Kaufmann Pub., 2008. -- (The Morgan Kaufmann series in systems on silicon / Peter J. Ashenden, Wayne Wolf, series editors). <BB01413626>
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No.
巻号
所蔵館
配置場所
請求記号
資料ID
状態
コメント
返却予定日
0001
呉高専
図書館開架
549.7||W-37
90038051
No.
0001
巻号
所蔵館
呉高専
配置場所
図書館開架
請求記号
549.7||W-37
資料ID
90038051
状態
コメント
返却予定日
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書誌詳細
標題および責任表示
System-on-chip test architectures : nanometer design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
出版・頒布事項
Burlington, Mass. : Morgan Kaufmann Pub. , c2008
形態事項
xxxvi, 856 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN
9780123739735
書誌構造リンク
The Morgan Kaufmann series in systems on silicon / Peter J. Ashenden, Wayne Wolf, series editors <BB00443307>//a
注記
Includes bibliographical references and index
学情ID
BA83999837
本文言語コード
英語
著者標目リンク
Wang, Laung-Terng <>
著者標目リンク
Stroud, Charles E. <>
著者標目リンク
Touba, Nur <>
分類標目
LCC:TK7895.E42
分類標目
DC22:621.39/5
件名標目等
Systems on a chip -- Testing
件名標目等
Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
件名標目等
Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design
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