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新TOEICテスト一発で正解がわかる

キム・デギュン著 ; [正編], 基礎編. -- [旺文社], 2006. <BB01013921>
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キム・デギュン著 ; [正編], 基礎編. -- [旺文社], 2006. <BB01013921>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日
0001 呉高専 図書館開架 830.79||Ki-38 90029300
No. 0001
巻号
所蔵館 呉高専
配置場所 図書館開架
請求記号 830.79||Ki-38
資料ID 90029300
状態
コメント
返却予定日
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書誌詳細

標題および責任表示 新TOEICテスト一発で正解がわかる / キム・デギュン著
シン TOEIC テスト イッパツ デ セイカイ ガ ワカル
出版・頒布事項 [東京] : [旺文社] , [2006.1]-
形態事項 冊 ; 21cm
巻号情報
巻次等 [正編]
ISBN 4010934905
巻号情報
巻次等 基礎編
ISBN 9784010940815
その他の標題 異なりアクセスタイトル:新TOEICテスト一発で正解がわかる
シン トーイック テスト イッパツ デ セイカイ ガ ワカル
注記 出版事項はジャケットによる
注記 [正編]: 付属資料: (録音ディスク1枚 : ディジタル ; 12cm)
注記 基礎編: 付属資料: (録音ディスク2枚 : ディジタル ; 12cm)
注記 基礎編: 付: (別冊63p) : 解答・解説
学情ID BA75816192
本文言語コード 日本語 英語
著者標目リンク キム, デギュン
キム, デギュン <NC:DA1481419X>
分類標目 英語 NDC8:830.79
分類標目 英語 NDC9:830.79
件名標目等 英語||エイゴ
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