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半導体物性測定法

今村舜仁, 伝田精一, 山香英三共著. -- 日刊工業新聞社, 1965. <BB00142140>
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半導体物性測定法

今村舜仁, 伝田精一, 山香英三共著. -- 日刊工業新聞社, 1965. <BB00142140>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日
0001 津山高専 図書館(技術) 549.28||I 000016596
No. 0001
巻号
所蔵館 津山高専
配置場所 図書館(技術)
請求記号 549.28||I
資料ID 000016596
状態
コメント
返却予定日
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書誌詳細

標題および責任表示 半導体物性測定法 / 今村舜仁, 伝田精一, 山香英三共著
ハンドウタイ ブッセイ ソクテイホウ
出版・頒布事項 東京 : 日刊工業新聞社 , 1965.6
形態事項 332,4p ; 21cm
学情ID BN03206438
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 今村, 舜仁
イマムラ, シュンジ <NC:DA05679752>
著者標目リンク 伝田, 精一(1931-)
デンダ, セイイチ <NC:DA00498954>
著者標目リンク 山香, 英三
ヤマカ, エイゾウ <NC:DA00650527>
件名標目等 半導体||ハンドウタイ
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