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電子線マイクロアナリシス : 走査電子顕微鏡,X線マイクロアナライザ分析法
副島啓義著. -- 日刊工業新聞社, 1987. <BB00095805>
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電子線マイクロアナリシス : 走査電子顕微鏡,X線マイクロアナライザ分析法
副島啓義著. -- 日刊工業新聞社, 1987. <BB00095805>
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No.
巻号
所蔵館
配置場所
請求記号
資料ID
状態
コメント
返却予定日
0001
津山高専
原田研究室
433.5||D
000067822
No.
0001
巻号
所蔵館
津山高専
配置場所
原田研究室
請求記号
433.5||D
資料ID
000067822
状態
コメント
返却予定日
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書誌詳細
標題および責任表示
電子線マイクロアナリシス : 走査電子顕微鏡,X線マイクロアナライザ分析法 / 副島啓義著
デンシセン マイクロ アナリシス : ソウサ デンシ ケンビキョウ Xセン マイクロ アナライザ ブンセキホウ
出版・頒布事項
東京 : 日刊工業新聞社 , 1987.2
形態事項
x,597,5p ; 27cm
巻号情報
ISBN
4526021008
注記
引用・参考文献:p.592-597
学情ID
BN00749109
本文言語コード
日本語
著者標目リンク
副島, 啓義(1939-)
ソエジマ, ヒロヨシ <NC:DA00807720>
分類標目
分析化学 NDC8:433.5
分類標目
科学技術 NDLC:PA124
件名標目等
光学分析||コウガクブンセキ
件名標目等
エックス線分光分析||エックスセンブンコウブンセキ
件名標目等
エックス線分光分析||エックスセンブンコウブンセキ
件名標目等
微量分析||ビリョウブンセキ
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