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テストと信頼性
樹下行三編著. -- オーム社, 1982. -- (マイクロコンピュータ基礎講座 ; 5). <BB00737056>
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テストと信頼性
樹下行三編著. -- オーム社, 1982. -- (マイクロコンピュータ基礎講座 ; 5). <BB00737056>
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No.
巻号
所蔵館
配置場所
請求記号
資料ID
状態
コメント
返却予定日
0001
津山高専
岡田研究室
549.92||K
000047554
No.
0001
巻号
所蔵館
津山高専
配置場所
岡田研究室
請求記号
549.92||K
資料ID
000047554
状態
コメント
返却予定日
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書誌詳細
標題および責任表示
テストと信頼性 / 樹下行三編著
テスト ト シンライセイ
出版・頒布事項
東京 : オーム社 , 1982.4
形態事項
218p ; 22cm
書誌構造リンク
マイクロコンピュータ基礎講座||マイクロ コンピュータ キソ コウザ <BB00532372> 5//b
注記
監修:石井治,相磯秀夫
注記
参考文献:p209〜214
学情ID
BN00609041
本文言語コード
日本語
著者標目リンク
樹下, 行三(1936-)
キノシタ, コウゾウ <NC:DA0007128X>
分類標目
情報工学 NDC8:548.2
分類標目
情報科学 NDC8:007.6
分類標目
科学技術 NDLC:M154
件名標目等
電子計算機||デンシケイサンキ
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