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Automation in electronic test equipment

edited by David M. Goodman ; 1 - 5. -- New York University, 1966. <BB01222755>
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Automation in electronic test equipment

edited by David M. Goodman ; 1 - 5. -- New York University, 1966. <BB01222755>
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所蔵一覧 1件～5件（全5件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日
0001 1 津山高専 図書館(技術) 549.9||A||1 000022964
0002 2 津山高専 図書館(技術) 549.9||A||2 000022965
0003 3 津山高専 図書館(技術) 549.9||A||3 000022966
0004 4 津山高専 図書館(技術) 549.9||A||4 000022967
0005 5 津山高専 図書館(技術) 549.9||A||5 000022968
No. 0001
巻号 1
所蔵館 津山高専
配置場所 図書館(技術)
請求記号 549.9||A||1
資料ID 000022964
状態
コメント
返却予定日
No. 0002
巻号 2
所蔵館 津山高専
配置場所 図書館(技術)
請求記号 549.9||A||2
資料ID 000022965
状態
コメント
返却予定日
No. 0003
巻号 3
所蔵館 津山高専
配置場所 図書館(技術)
請求記号 549.9||A||3
資料ID 000022966
状態
コメント
返却予定日
No. 0004
巻号 4
所蔵館 津山高専
配置場所 図書館(技術)
請求記号 549.9||A||4
資料ID 000022967
状態
コメント
返却予定日
No. 0005
巻号 5
所蔵館 津山高専
配置場所 図書館(技術)
請求記号 549.9||A||5
資料ID 000022968
状態
コメント
返却予定日
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書誌詳細

標題および責任表示 Automation in electronic test equipment / edited by David M. Goodman
出版・頒布事項 New York : New York University , 1966-1967
形態事項 5 v. ; 28 cm
巻号情報
巻次等 1
巻号情報
巻次等 2
巻号情報
巻次等 3
巻号情報
巻次等 4
巻号情報
巻次等 5
内容著作注記 v. 3,4,5. Built-in test and continuous monitoring
注記 v. 1,2: Summer of 1960 and 1961
注記 v. 3,4,5: August 29 - September 2, 1966
学情ID BA29374141
本文言語コード 英語
著者標目リンク Goodman, David <>
著者標目リンク New York University <NC:DA01984539>
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