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新TOEICテスト完全分析 : 出題者の意図・視点を徹底分析!

福田健一著. -- 三修社, 2008. <BB01320463>
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新TOEICテスト完全分析 : 出題者の意図・視点を徹底分析!

福田健一著. -- 三修社, 2008. <BB01320463>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日 予約
0001 出題者の意図・視点を徹底分析! 明石高専 研究室 830||79||F Z2008709 0件
No. 0001
巻号 出題者の意図・視点を徹底分析!
所蔵館 明石高専
配置場所 研究室
請求記号 830||79||F
資料ID Z2008709
状態
コメント
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 新TOEICテスト完全分析 : 出題者の意図・視点を徹底分析! / 福田健一著
シン TOEIC テスト カンゼン ブンセキ : シュツダイシャ ノ イト ・ シテン オ テッテイ ブンセキ
出版・頒布事項 東京 : 三修社 , 2008.8
形態事項 xii, 326p ; 21cm + CD (1枚 12cm)
巻号情報
ISBN 9784384018561
学情ID BA87421963
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 福田, 健一
フクダ, ケンイチ <NC:DA09328181>
分類標目 児童図書・簡易整理資料・教科書・専門資料室資料・特殊資料 NDLC:YU51
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