豊田工業高等専門学校

X線マイクロアナライザ

内山郁, 渡辺融, 紀本静雄著. -- 日刊工業新聞社, 1972. <BB01589347>
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所蔵一覧 1件~3件(全3件)

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日 予約
0001 豊田高専 書庫1F 501.22||U 0037882 0件
0002 豊田高専 書庫1F 501.22||U 0037045 0件
0003 豊田高専 開架 433||U 0028262 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 豊田高専
配置場所 書庫1F
請求記号 501.22||U
資料ID 0037882
状態
コメント
返却予定日
予約 0件
No. 0002
巻号
所蔵館 豊田高専
配置場所 書庫1F
請求記号 501.22||U
資料ID 0037045
状態
コメント
返却予定日
予約 0件
No. 0003
巻号
所蔵館 豊田高専
配置場所 開架
請求記号 433||U
資料ID 0028262
状態
コメント
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

標題および責任表示 X線マイクロアナライザ / 内山郁, 渡辺融, 紀本静雄著
Xセン マイクロ アナライザ
出版・頒布事項 東京 : 日刊工業新聞社 , 1972.1
形態事項 2, 6, 243, 6p ; 22cm
注記 付: 参考図書
学情ID BN01340509
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 内山, 郁(1928-)
ウチヤマ, イク <NC:DA00862751>
著者標目リンク 紀本, 静雄
キモト, シズオ <NC:DA01532093>
著者標目リンク 渡辺, 融
ワタナベ, アキラ <NC:DA01554449>
分類標目 NDC6:570.7
分類標目 科学技術 NDLC:M217
件名標目等 エックス線分光分析||エックスセンブンコウブンセキ