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豊田工業高等専門学校
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X線マイクロアナライザ
内山郁, 渡辺融, 紀本静雄著. -- 日刊工業新聞社, 1972. <BB01589347>
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巻号
所蔵館
配置場所
請求記号
資料ID
状態
コメント
返却予定日
予約
0001
豊田高専
書庫1F
501.22||U
0037882
0件
0002
豊田高専
書庫1F
501.22||U
0037045
0件
0003
豊田高専
開架
433||U
0028262
0件
No.
0001
巻号
所蔵館
豊田高専
配置場所
書庫1F
請求記号
501.22||U
資料ID
0037882
状態
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返却予定日
予約
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No.
0002
巻号
所蔵館
豊田高専
配置場所
書庫1F
請求記号
501.22||U
資料ID
0037045
状態
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返却予定日
予約
0件
No.
0003
巻号
所蔵館
豊田高専
配置場所
開架
請求記号
433||U
資料ID
0028262
状態
コメント
返却予定日
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書誌詳細
標題および責任表示
X線マイクロアナライザ / 内山郁, 渡辺融, 紀本静雄著
Xセン マイクロ アナライザ
出版・頒布事項
東京 : 日刊工業新聞社 , 1972.1
形態事項
2, 6, 243, 6p ; 22cm
注記
付: 参考図書
学情ID
BN01340509
本文言語コード
日本語
著者標目リンク
内山, 郁(1928-)
ウチヤマ, イク <NC:DA00862751>
著者標目リンク
紀本, 静雄
キモト, シズオ <NC:DA01532093>
著者標目リンク
渡辺, 融
ワタナベ, アキラ <NC:DA01554449>
分類標目
NDC6:570.7
分類標目
科学技術 NDLC:M217
件名標目等
エックス線分光分析||エックスセンブンコウブンセキ
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