豊田工業高等専門学校
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論理とテスト

樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]. -- 岩波書店, 1985. -- (岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2). <BB00789445>
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論理とテスト

樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]. -- 岩波書店, 1985. -- (岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2). <BB00789445>
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所蔵一覧 1件～2件（全2件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日 予約
0001 豊田高専 研究室 549||I||4 0052524 0件
0002 豊田高専 開架 549||I||4 0052541 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 豊田高専
配置場所 研究室
請求記号 549||I||4
資料ID 0052524
状態
コメント
返却予定日
予約 0件
No. 0002
巻号
所蔵館 豊田高専
配置場所 開架
請求記号 549||I||4
資料ID 0052541
状態
コメント
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]
ロンリ ト テスト
出版・頒布事項 東京 : 岩波書店 , 1985.5
形態事項 x, 313p ; 22cm
巻号情報
ISBN 4000101846
書誌構造リンク 岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編||イワナミ コウザ マイクロ エレクトロニクス <BB00069010> 4 . VLSIの設計||VLSI ノ セッケイ ; 2//bb
注記 参考書: p303-305
学情ID BN00059257
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 樹下, 行三(1936-)
キノシタ, コウゾウ <NC:DA0007128X>
著者標目リンク 浅田, 邦博
アサダ, クニヒロ <NC:DA06950931>
著者標目リンク 唐津, 修(1947-)
カラツ, オサム <NC:DA08250748>
分類標目 電子工学 NDC8:549
分類標目 電子工学 NDC8:549.08
分類標目 NDC7:549.92
分類標目 科学技術 NDLC:ND351
分類標目 科学技術 NDLC:ND386
件名標目等 集積回路||シュウセキカイロ
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