豊田工業高等専門学校
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High resolution X-ray diffractometry and topography

D. Keith Bowen and Brian K. Tanner. -- Taylor & Francis, 1998. <BB00556170>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日 予約
0001 豊田高専 研究室 459||B 0074086 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 豊田高専
配置場所 研究室
請求記号 459||B
資料ID 0074086
状態
コメント
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 High resolution X-ray diffractometry and topography / D. Keith Bowen and Brian K. Tanner
出版・頒布事項 London : Taylor & Francis , c1998
形態事項 x, 252 p. : ill. ; 26 cm
巻号情報
ISBN 0850667585
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA39292928
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Bowen, D. Keith (David Keith), 1940- <NC:DA08763902>
著者標目リンク Tanner, B. K. (Brian Keith) <NC:DA08893012>
分類標目 LCC:QD945
分類標目 DC21:548/.83
件名標目等 X-ray crystallography
件名標目等 X-rays -- Diffraction
件名標目等 Crystals
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