豊田工業高等専門学校

Symposium on advances in electron metallography and electron probe microanalysis : held at Atlantic City, N.J., June 28, 1960, and June 26, 1961

sponsored by Subcommittee XI on Electron Microstructure of ASTM Committee E-4 on Electron Metallography. -- ASTM, 1962. -- (ASTM special technical publication ; no. 317). <BB01348248>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日 予約
0001 豊田高専 書庫2F 563.6||A 0008348 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 豊田高専
配置場所 書庫2F
請求記号 563.6||A
資料ID 0008348
状態
コメント
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

標題および責任表示 Symposium on advances in electron metallography and electron probe microanalysis : held at Atlantic City, N.J., June 28, 1960, and June 26, 1961 / sponsored by Subcommittee XI on Electron Microstructure of ASTM Committee E-4 on Electron Metallography
出版・頒布事項 Philadelphia, Pa. : ASTM , 1962
形態事項 v, 207 p. ; 24 cm
書誌構造リンク ASTM special technical publication <BB02050048> no. 317//a
注記 This is v.3 of "ASTM advances in electron metallography series" (data based on Advances in electron metallography, v.6, 1966)
学情ID BA20544253
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Symposium on Advances in Electron Metallography <NC:DA10548243>
著者標目リンク American Society for Testing and Materials. Committee E-4 on Metallography <NC:DA01747329>