沼津工業高等専門学校
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Atom probe field ion microscopy

M.K. Miller ... [et al.]. -- Clarendon Press, 1996. -- (Monographs on the physics and chemistry of materials ; 52)(Oxford science publications). <BB01602899>
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Atom probe field ion microscopy

M.K. Miller ... [et al.]. -- Clarendon Press, 1996. -- (Monographs on the physics and chemistry of materials ; 52)(Oxford science publications). <BB01602899>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日
0001 沼津高専 閲覧室書架4 429.2||*||* 071634
No. 0001
巻号
所蔵館 沼津高専
配置場所 閲覧室書架4
請求記号 429.2||*||*
資料ID 071634
状態
コメント
返却予定日
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書誌詳細

標題および責任表示 Atom probe field ion microscopy / M.K. Miller ... [et al.]
出版・頒布事項 Oxford : Clarendon Press , 1996
形態事項 xi, 509 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0198513879
書誌構造リンク Monographs on the physics and chemistry of materials <BB00553014> 52//a
書誌構造リンク Oxford science publications <BB00073344>//a
注記 Includes references
学情ID BA2848789X
本文言語コード 英語
著者標目リンク Miller, M. K. (Michael Kenneth) <NC:DA05002218>
分類標目 LCC:QH212.A76
分類標目 DC20:502/.8/2
分類標目 NDC7:492.19
件名標目等 Atom-probe field ion microscopy
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