富山高等専門学校

表面分析 : 基礎と応用

D.ブリッグス, M.P.シーア編 ; 表面分析研究会訳 ; 上巻, 下巻. -- アグネ, 1990. <BB00101395>
登録タグ:
登録されているタグはありません
書誌URL:

所蔵一覧 1件~6件(全6件)

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日 予約
0001 富山(本郷) 開架図書 428.4||B73||1 1000033504 0件
0002 上巻 富山(本郷) 開架図書 428.4||B73||1 1000654226 0件
0003 富山(本郷) 開架図書 428.4||B73||1 1000033512 0件
0004 下巻 富山(本郷) 開架図書 428.4||B73||2 1000654234 0件
0005 下巻 富山(本郷) 開架図書 428.4||B73||2 1000083814 0件
0006 下巻 富山(本郷) 開架図書 428.4||B73||2 1000083822 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 富山(本郷)
配置場所 開架図書
請求記号 428.4||B73||1
資料ID 1000033504
状態
コメント
返却予定日
予約 0件
No. 0002
巻号 上巻
所蔵館 富山(本郷)
配置場所 開架図書
請求記号 428.4||B73||1
資料ID 1000654226
状態
コメント
返却予定日
予約 0件
No. 0003
巻号
所蔵館 富山(本郷)
配置場所 開架図書
請求記号 428.4||B73||1
資料ID 1000033512
状態
コメント
返却予定日
予約 0件
No. 0004
巻号 下巻
所蔵館 富山(本郷)
配置場所 開架図書
請求記号 428.4||B73||2
資料ID 1000654234
状態
コメント
返却予定日
予約 0件
No. 0005
巻号 下巻
所蔵館 富山(本郷)
配置場所 開架図書
請求記号 428.4||B73||2
資料ID 1000083814
状態
コメント
返却予定日
予約 0件
No. 0006
巻号 下巻
所蔵館 富山(本郷)
配置場所 開架図書
請求記号 428.4||B73||2
資料ID 1000083822
状態
コメント
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

標題および責任表示 表面分析 : 基礎と応用 / D.ブリッグス, M.P.シーア編 ; 表面分析研究会訳
ヒョウメン ブンセキ : キソ ト オウヨウ
出版・頒布事項 [東京] : アグネ
出版・頒布事項 東京 : アグネ承風社 (発売) , 1990.7-1990.10
形態事項 2冊 ; 21cm
巻号情報
巻次等 上巻
ISBN 4900508160
巻号情報
巻次等 下巻
ISBN 4900508179
その他の標題 原タイトル:Practical surface analysis by auger and X-ray photoelectron spectroscopy
注記 第4刷の出版社: アグネ承風社
注記 監訳: 合志陽一, 志水隆一
学情ID BN05052211
本文言語コード 日本語
著者標目リンク Briggs, D. <NC:DA00014537>
著者標目リンク Seah, M. P. <NC:DA00014548>
著者標目リンク 合志, 陽一
ゴウシ, ヨウイチ <NC:DA01267094>
著者標目リンク 志水, 隆一
シミズ, リュウイチ <NC:DA0332568X>
著者標目リンク 表面分析研究会
ヒョウメン ブンセキ ケンキュウカイ <NC:DA05144824>
分類標目 工業基礎学 NDC8:501.2
分類標目 物性物理学 NDC8:428.4
分類標目 科学技術 NDLC:MC141
件名標目等 表面(工学)||ヒョウメン(コウガク)
件名標目等 電子分光法||デンシブンコウホウ
件名標目等 エックス線分光分析||エックスセンブンコウブンセキ
件名標目等 表面(工学)||ヒョウメン(コウガク)
件名標目等 電子分光法||デンシブンコウホウ