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残留応力のX線評価 : 基礎と応用

田中啓介, 鈴木賢治, 秋庭義明共著. -- 養賢堂, 2006. <BB00342980>
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残留応力のX線評価 : 基礎と応用

田中啓介, 鈴木賢治, 秋庭義明共著. -- 養賢堂, 2006. <BB00342980>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日 予約
0001 群馬高専 図書_開架 501.322||Ta84 3121141 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 群馬高専
配置場所 図書_開架
請求記号 501.322||Ta84
資料ID 3121141
状態
コメント
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 残留応力のX線評価 : 基礎と応用 / 田中啓介, 鈴木賢治, 秋庭義明共著
ザンリュウ オウリョク ノ Xセン ヒョウカ : キソ ト オウヨウ
出版・頒布事項 東京 : 養賢堂 , 2006.7
形態事項 vii, 363p : 挿図 ; 21cm
巻号情報
ISBN 484250384X
その他の標題 その他のタイトル:Evaluation of residual stresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications
その他の標題 異なりアクセスタイトル:残留応力のX線評価 : 基礎と応用
ザンリュウ オウリョク ノ エックスセン ヒョウカ : キソ ト オウヨウ
その他の標題 異なりアクセスタイトル:Evaluation of residual sresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications
注記 欧文タイトル (誤植): Evaluation of residual sresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications
注記 欧文タイトルは標題紙裏による
注記 参考文献: 各章末
学情ID BA77874054
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 田中, 啓介(1943-)
タナカ, ケイスケ <NC:DA06578976>
著者標目リンク 鈴木, 賢治(1958-)
スズキ, ケンジ <NC:DA05345429>
著者標目リンク 秋庭, 義明(1959-)
アキニワ, ヨシアキ <NC:DA11273526>
分類標目 工業基礎学 NDC9:501.32
件名標目等 応力||オウリョク
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