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Delay fault testing for VLSI circuits

Angela Krstić, Kwang-Ting (Tim) Cheng. -- Kluwer Academic Publishers, 1998. -- (Frontiers in electronic testing). <BB00372729>
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Delay fault testing for VLSI circuits

Angela Krstić, Kwang-Ting (Tim) Cheng. -- Kluwer Academic Publishers, 1998. -- (Frontiers in electronic testing). <BB00372729>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日 予約
0001 群馬高専 研究室524 549.7||Kr7 2016126 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 群馬高専
配置場所 研究室524
請求記号 549.7||Kr7
資料ID 2016126
状態
コメント
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Delay fault testing for VLSI circuits / Angela Krstić, Kwang-Ting (Tim) Cheng
出版・頒布事項 Boston : Kluwer Academic Publishers , c1998
形態事項 xii, 191 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0792382951
書誌構造リンク Frontiers in electronic testing <BB00477441>//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA39243809
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Krstić, Angela, 1965- <>
著者標目リンク Cheng, Kwang-Ting, 1961- <>
分類標目 LCC:TK7874.75
分類標目 DC21:621.39/5
件名標目等 Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
件名標目等 Delay faults (Semiconducotrs)
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