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Digital circuit testing and testability

Parag K. Lala. -- Academic Press, 1997. <BB01077394>
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Digital circuit testing and testability

Parag K. Lala. -- Academic Press, 1997. <BB01077394>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日 予約
0001 群馬高専 研究室524 549.1||L14 2016127 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 群馬高専
配置場所 研究室524
請求記号 549.1||L14
資料ID 2016127
状態
コメント
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Digital circuit testing and testability / Parag K. Lala
出版・頒布事項 San Diego : Academic Press , c1997
形態事項 xii, 199 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0124343309
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA30378332
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Lala, Parag K., 1948- <NC:DA02139930>
分類標目 LCC:TK7874.75
分類標目 DC20:621.39/5/0287
件名標目等 Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
件名標目等 Digital integrated circuits -- Testing
件名標目等 Integrated circuits -- Fault tolerance
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