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Digital circuit testing and testability
Parag K. Lala. -- Academic Press, 1997. <BB01077394>
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配置場所
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状態
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返却予定日
予約
0001
群馬高専
研究室524
549.1||L14
2016127
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No.
0001
巻号
所蔵館
群馬高専
配置場所
研究室524
請求記号
549.1||L14
資料ID
2016127
状態
コメント
返却予定日
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書誌詳細
標題および責任表示
Digital circuit testing and testability / Parag K. Lala
出版・頒布事項
San Diego : Academic Press , c1997
形態事項
xii, 199 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN
0124343309
注記
Includes bibliographical references and index
学情ID
BA30378332
本文言語コード
英語
著者標目リンク
*Lala, Parag K., 1948- <NC:DA02139930>
分類標目
LCC:TK7874.75
分類標目
DC20:621.39/5/0287
件名標目等
Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
件名標目等
Digital integrated circuits -- Testing
件名標目等
Integrated circuits -- Fault tolerance
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