群馬工業高等専門学校

Field-ion microscopy

K. Bowkett and D.A. Smith ; : ne, : us. -- North-Holland, 1970. -- (Defects in crystalline solids ; v. 2). <BB01452806>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日 予約
0001 : us 群馬高専 書庫1階 428.4||D53||2 2006102 0件
No. 0001
巻号 : us
所蔵館 群馬高専
配置場所 書庫1階
請求記号 428.4||D53||2
資料ID 2006102
状態
コメント
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

標題および責任表示 Field-ion microscopy / K. Bowkett and D.A. Smith
出版・頒布事項 Amsterdam : North-Holland
出版・頒布事項 New Yrok : Sole distributed for the U.S.A. and Canada, American Elsevier , 1970
形態事項 x, 257 p. : ill. ; 23 cm
巻号情報
巻次等 : ne
ISBN 072041752X
巻号情報
巻次等 : us
ISBN 0444100040
書誌構造リンク Defects in crystalline solids <BB00568309> v. 2//a
学情ID BA09972399
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Bowkett, K. M. <NC:DA11658644>
著者標目リンク Smith, David A. (David Anthony), 1943- <NC:DA02268139>
分類標目 LCC:QH212.F5
分類標目 DC:548/.83
件名標目等 Field ion microscope