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二次イオン質量分析法

日本表面真空学会編. -- 第2版. -- 丸善出版, 2025. -- (表面分析技術選書). <BB02962643>
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日本表面真空学会編. -- 第2版. -- 丸善出版, 2025. -- (表面分析技術選書). <BB02962643>
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仙台(広瀬) 電子ブック 428.4||ニジ EB2025009 禁帯出 電子ブックは両キャンパスで利用できます。 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 仙台(広瀬)
配置場所 電子ブック
請求記号 428.4||ニジ
資料ID EB2025009
状態 禁帯出
コメント 電子ブックは両キャンパスで利用できます。
返却予定日
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書誌詳細

標題および責任表示 二次イオン質量分析法 / 日本表面真空学会編
ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ
版事項 第2版
出版・頒布事項 東京 : 丸善出版 , 2025.5
形態事項 ix, 226p : 挿図 ; 21cm
巻号情報
ISBN 9784621311356
書誌構造リンク 表面分析技術選書||ヒョウメン ブンセキ ギジュツ センショ <BB01065312>//a
その他の標題 その他のタイトル:Secondary ion mass spectrometry
その他の標題 その他のタイトル:SIMS
その他の標題 異なりアクセスタイトル:二次イオン質量分析法
2ジ イオン シツリョウ ブンセキホウ
注記 表現種別: テキスト (ncrcontent), 機器種別: 機器不用 (ncrmedia), キャリア種別: 冊子 (ncrcarrier)
注記 初版: 丸善 1999年刊
注記 その他のタイトルはブックジャケットによる
注記 引用・参考文献: 各章末
学情ID BD12063477
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 日本表面科学会||ニホン ヒョウメン カガクカイ <AU00009682> 編者
分類標目 物性物理学 NDC9:428.4
分類標目 物性物理学 NDC10:428.4
分類標目 科学技術 NDLC:MC141
件名標目等 表面(工学)||ヒョウメン(コウガク)
件名標目等 イオンビーム||イオンビーム
件名標目等 質量分析||シツリョウブンセキ
件名標目等 表面 (工学)||ヒョウメン (コウガク)
件名標目等 質量分析||シツリョウブンセキ
件名標目等 イオンビーム||イオンビーム
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