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物質・材料研究のための透過電子顕微鏡

木本浩司 [ほか] 著. -- 講談社, 2020. <BB01818443>
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木本浩司 [ほか] 著. -- 講談社, 2020. <BB01818443>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日 予約
0001 仙台(名取) (名取)2F開架書架 549.97||トウ 120220100 0件
0002 仙台(広瀬) (広瀬)一般図書 549.97||Ki37 C20210209 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 仙台(名取)
配置場所 (名取)2F開架書架
請求記号 549.97||トウ
資料ID 120220100
状態
コメント
返却予定日
予約 0件
No. 0002
巻号
所蔵館 仙台(広瀬)
配置場所 (広瀬)一般図書
請求記号 549.97||Ki37
資料ID C20210209
状態
コメント
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 物質・材料研究のための透過電子顕微鏡 / 木本浩司 [ほか] 著
ブッシツ ザイリョウ ケンキュウ ノ タメ ノ トウカ デンシ ケンビキョウ
出版・頒布事項 東京 : 講談社 , 2020.7
形態事項 x, 389p : 挿図 ; 21cm
巻号情報
ISBN 9784065203866
その他の標題 標題紙タイトル:Transmission Electron Microscope for Materials Research
その他の標題 異なりアクセスタイトル:透過電子顕微鏡 : 物質・材料研究のための
トウカ デンシ ケンビキョウ : ブッシツ・ザイリョウ ケンキュウ ノ タメ ノ
その他の標題 異なりアクセスタイトル:物質材料研究のための透過電子顕微鏡
ブッシツ ザイリョウ ケンキュウ ノ タメ ノ トウカ デンシ ケンビキョウ
注記 結晶構造分析・元素分析・化学結合状態解析などを原子レベルで行うことができる透過電子顕微鏡法(TEM)。電子回折法、走査透過電子顕微鏡法、電子エネルギー損失分光法等、TEMのさまざまな計測手法を詳しく解説する。
注記 その他の著者: 三石和貴, 三留正則, 原徹, 長井拓郎
注記 編集: 講談社サイエンティフィク
注記 引用文献、参考書・参考文献: 章末
学情ID BC01556588
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 木本, 浩司
キモト, コウジ <>
著者標目リンク 三石, 和貴
ミツイシ, カズタカ <>
著者標目リンク 三留, 正則
ミトメ, マサノリ <>
著者標目リンク 原, 徹
ハラ, トオル <>
著者標目リンク 長井, 拓郎
ナガイ, タクロウ <>
著者標目リンク 講談社サイエンティフィク
コウダンシャ サイエンティフィク <NC:DA00235015>
分類標目 電子工学 NDC8:549.97
分類標目 電子工学 NDC9:549.97
分類標目 電子工学 NDC10:549.97
分類標目 科学技術 NDLC:M213
分類標目 工業基礎学 NDC10:501.4
件名標目等 電子顕微鏡||デンシケンビキョウ
件名標目等 材料科学||ザイリョウ カガク
件名標目等 電子顕微鏡||デンシケンビキョウ
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