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Defect analysis in electron microscopy

M. H. Loretto and R. E. Smallman ; pbk. -- Chapman and Hall, 1975. <BB00650415>
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M. H. Loretto and R. E. Smallman ; pbk. -- Chapman and Hall, 1975. <BB00650415>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日 予約
0001 pbk 仙台(名取) (名取)1F閉架書庫 459.9||DE 900046023 0件
No. 0001
巻号 pbk
所蔵館 仙台(名取)
配置場所 (名取)1F閉架書庫
請求記号 459.9||DE
資料ID 900046023
状態
コメント
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Defect analysis in electron microscopy / M. H. Loretto and R. E. Smallman
出版・頒布事項 London : Chapman and Hall
出版・頒布事項 New York : Wiley : distributed by Halstead Press , c1975
形態事項 ix, 134 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0412137607
巻号情報
巻次等 pbk
ISBN 0412137704
注記 "A Halsted Press book."
注記 Bibliography: p. 131
注記 Includes index
学情ID BA07577713
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Loretto, M. H. <NC:DA00040005>
著者標目リンク Smallman, R. E. <NC:DA01588666> joint author
分類標目 LCC:QD921
分類標目 DC:548/.84
件名標目等 Crystals -- Defects
件名標目等 Electron microscopy
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