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Electrical characterization of GaAs materials and devices

David C. Look. -- Wiley, 1989. -- (Design and measurement in electronic engineering). <BB01912130>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日 予約
0001 仙台(広瀬) (広瀬)一般図書 549.8||L9 S00033897 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 仙台(広瀬)
配置場所 (広瀬)一般図書
請求記号 549.8||L9
資料ID S00033897
状態
コメント
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Electrical characterization of GaAs materials and devices / David C. Look
出版・頒布事項 Chichester ; New York : Wiley , c1989
形態事項 x, 280 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0471917028
書誌構造リンク Design and measurement in electronic engineering <BB00383826>//a
注記 Bibliography: p. 261-275
注記 Includes index
学情ID BA06818472
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Look, D. C. (David C.), 1938- <NC:DA03194876>
分類標目 LCC:TK7871.15.G3
分類標目 DC19:621.3815/2
件名標目等 Gallium arsenide semiconductors -- Testing
件名標目等 Magnetoresistance
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