仙台高等専門学校

Integrated circuit quality and reliability

Eugene R. Hnatek. -- Marcel Dekker, 1987. -- (Electrical engineering and electronics ; 41). <BB00483493>
登録タグ:
登録されているタグはありません
書誌URL:

所蔵一覧 1件~1件(全1件)

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日 予約
0001 仙台(広瀬) (広瀬)一般図書 549.8||H20 S00033813 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 仙台(広瀬)
配置場所 (広瀬)一般図書
請求記号 549.8||H20
資料ID S00033813
状態
コメント
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

標題および責任表示 Integrated circuit quality and reliability / Eugene R. Hnatek
出版・頒布事項 New York : Marcel Dekker , c1987
形態事項 xiii, 698 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0824776682
書誌構造リンク Electrical engineering and electronics <BB01060956> 41//a
注記 Includes bibliographies and index
学情ID BA03980361
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Hnatek, Eugene R. <>
分類標目 LCC:TK7874
分類標目 DC19:621.381/73
件名標目等 Integrated circuits -- Reliability