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Fundamentals of surface and thin film analysis

Leonard C. Feldman, James W. Mayer. -- North-Holland, 1986. <BB01590173>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日 予約
0001 仙台(広瀬) (広瀬)一般図書 433||F1 S00031501 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 仙台(広瀬)
配置場所 (広瀬)一般図書
請求記号 433||F1
資料ID S00031501
状態
コメント
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Fundamentals of surface and thin film analysis / Leonard C. Feldman, James W. Mayer
出版・頒布事項 New York : North-Holland : Elsevier Science Pub. , c1986
形態事項 xviii, 352 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0444009892
注記 Includes bibliographies and index
学情ID BA0028903X
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Feldman, Leonard C. <NC:DA00601962>
著者標目リンク Mayer, James W., 1930- <NC:DA00601973>
分類標目 LCC:QD506
分類標目 DC19:530.4/1
件名標目等 Surfaces (Technology) -- Analysis
件名標目等 Thin films -- Analysis
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