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EXAFS : basic principles and data analysis

Boon K. Teo ; us, gw. -- Springer-Verlag, 1986. -- (Inorganic chemistry concepts ; v. 9). <BB01012050>
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EXAFS : basic principles and data analysis

Boon K. Teo ; us, gw. -- Springer-Verlag, 1986. -- (Inorganic chemistry concepts ; v. 9). <BB01012050>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日 予約
0001 gw 仙台(広瀬) (広瀬)一般図書 425||T3 S00030627 0件
No. 0001
巻号 gw
所蔵館 仙台(広瀬)
配置場所 (広瀬)一般図書
請求記号 425||T3
資料ID S00030627
状態
コメント
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 EXAFS : basic principles and data analysis / Boon K. Teo
出版・頒布事項 Berlin ; Tokyo : Springer-Verlag , c1986
形態事項 xviii, 349 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
巻次等 us
ISBN 0387158332
巻号情報
巻次等 gw
ISBN 3540158332
書誌構造リンク Inorganic chemistry concepts <BB00618170> v. 9//a
注記 Bibliography: p. [223]-284
注記 Includes index
学情ID BA00175234
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Teo, B. K. <NC:DA00289477>
分類標目 LCC:QC482.S6
分類標目 DC19:539.7/222
分類標目 科学技術 NDLC:MC231
分類標目 電磁気学 NDC8:427.55
件名標目等 Extended X-ray absorption fine structure
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