一関工業高等専門学校
一関工業高等専門学校
ヘルプ ログイン
  • 目録検索 目録検索 ▼
  • 利用者サービス 利用者サービス ▼
    • 利用状況の確認
    • ブックマーク
    • お気に入り検索
    • 新規購入依頼

一関工業高等専門学校

検索結果一覧へ戻る

Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications

Lawrence E. Murr. -- Marcel Dekker, 1982. -- (Optical engineering ; v. 1). <BB01077567>
登録タグ：
登録されているタグはありません
便利機能：
詳細情報を見る
書誌URL：

Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications

Lawrence E. Murr. -- Marcel Dekker, 1982. -- (Optical engineering ; v. 1). <BB01077567>
登録タグ：
登録されているタグはありません
便利機能：
詳細情報を見る
書誌URL：

所蔵一覧 1件～1件（全1件）

ナンバーをクリックすると所蔵詳細をみることができます。

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日 予約
0001 一関高専 閉架書庫 549.97||Mu79 0043493 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 一関高専
配置場所 閉架書庫
請求記号 549.97||Mu79
資料ID 0043493
状態
コメント
返却予定日
予約 0件
このページのTOPへ

書誌詳細

標題および責任表示 Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications / Lawrence E. Murr
出版・頒布事項 New York : Marcel Dekker , c1982
形態事項 xiv, 793 p. : ill. ; 27 cm
巻号情報
ISBN 0824715535
書誌構造リンク Optical engineering <BB00551249> v. 1//a
注記 Includes bibliographical references and indexes
学情ID BA03766394
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Murr, Lawrence Eugene <NC:DA01483136>
分類標目 LCC:QH212.E4
分類標目 DC19:502/.8/25
件名標目等 Electron microscopy
件名標目等 Field ion microscope
件名標目等 Microprobe analysis
このページのTOPへ
検索結果一覧へ戻る
このページのTOPへ

  • 関連情報

    関連資料

    他の検索サイトで探す

    他大学資料確認

    購入依頼

    この書誌のQRコード