旭川工業高等専門学校
ヘルプ ログイン
  • 目録検索 目録検索 ▼
  • 利用者サービス 利用者サービス ▼
    • 利用状況の確認
    • ブックマーク
    • お気に入り検索
    • 新着アラート
    • ILL複写依頼
    • ILL貸借依頼
    • 新規購入依頼

旭川工業高等専門学校

検索結果一覧へ戻る

半導体素子・ICの測定法

川口清一, 石野寛著. -- 日刊工業新聞社, 1970. -- (Semi Conductor Series ; 7). <BB01407509>
便利機能：
詳細情報を見る
書誌URL：

半導体素子・ICの測定法

川口清一, 石野寛著. -- 日刊工業新聞社, 1970. -- (Semi Conductor Series ; 7). <BB01407509>
便利機能：
詳細情報を見る
書誌URL：

所蔵一覧 1件～1件（全1件）

ナンバーをクリックすると所蔵詳細をみることができます。

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 コメント 返却予定日
0001 旭川高専 開架書架 549.8||||Kawa 1031993
No. 0001
巻号
所蔵館 旭川高専
配置場所 開架書架
請求記号 549.8||||Kawa
資料ID 1031993
状態
コメント
返却予定日
このページのTOPへ

書誌詳細

標題および責任表示 半導体素子・ICの測定法 / 川口清一, 石野寛著
ハンドウタイ ソシ IC ノ ソクテイホウ
出版・頒布事項 東京 : 日刊工業新聞社 , 1970.12
形態事項 2, 7, 162, 4p ; 22cm
書誌構造リンク Semi Conductor Series||Semi Conductor Series <BB00986817> 7//b
学情ID BN04816988
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 川口, 清一
カワグチ, セイイチ <NC:DA04359734>
著者標目リンク 石野, 寛
イシノ, ヒロシ <NC:DA04359756>
分類標目 NDC6:549
分類標目 科学技術 NDLC:ND371
件名標目等 トランジスタ||トランジスタ
このページのTOPへ
検索結果一覧へ戻る
このページのTOPへ

  • 関連情報

    関連資料

    他の検索サイトで探す

    他大学資料確認

    資料を取り寄せる

    • ILL複写依頼(コピー取り寄せ)
    • ILL貸借依頼(現物借用)

    購入依頼

    この書誌のQRコード